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用途

15J測量顯微鏡是光學計量儀器之一種，它的結構簡單，操作方便，適用范圍極廣，主要用途如下

1.直角坐標中測定長度，例如測定孔距、基面距離、刻線距離、刻線寬度、鍵槽寬度、狹縫寬度、通孔外圓直徑等等。

2.轉動度盤測定角度，例如對刻度盤、樣板、量規(guī)、鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。

3.用作觀察，以比較法檢查工作表面粗糙度，鑒定冶金工業(yè)的礦石標本，檢定印刷照相制版，檢驗紡織纖維等等。

技術規(guī)格

測量工作臺讀數(shù)裝置主要規(guī)格

X軸移動測量范圍：50mm

Y軸移動測量范圍：13mm

測微器分度值：0.01mm

測量臺轉動范圍：不限

測量臺刻度盤分度范圍：0°～360°

測量臺刻度盤之分度值：1°

測量臺刻度盤游讀數(shù)示值：6′

3.測量精度：

儀器示值誤差：±(4+L/15 )um

儀器示值誤差：包括測量誤差與儀器系統(tǒng)誤差。

注：測量地點溫度變化(20±3)℃

　　L-被測件長度(mm)

4.儀器之主要尺寸：

測量臺與物鏡間之最大距離：80mm

測量工作臺直徑：120mm